Detalles del producto
Lugar de origen: China
Nombre de la marca: zmsh
Número de modelo: 6inch-001
Condiciones de pago y envío
Cantidad de orden mínima: 1pcs
Precio: by case by FOB
Detalles de empaquetado: Empaquetado en un ambiente del sitio limpio de la clase 100, en los casetes de solos envases de la o
Tiempo de entrega: dentro de 40days
Capacidad de la fuente: 50pcs/months
usos: |
dispositivo, llevado, 5G, detector, electrónica de poder |
industria: |
oblea del semicondctor |
material: |
semiconductor sic |
color: |
verde o blanco o azul |
dureza: |
9,0 |
tipo: |
4H, 6H, dopado, ninguno-dopado, |
usos: |
dispositivo, llevado, 5G, detector, electrónica de poder |
industria: |
oblea del semicondctor |
material: |
semiconductor sic |
color: |
verde o blanco o azul |
dureza: |
9,0 |
tipo: |
4H, 6H, dopado, ninguno-dopado, |
6inch sic substratos, 6inch sic obleas, lingotes sic cristalinos,
bloque sic cristalino, sic substratos del semiconductor, oblea del carburo de silicio
6 pulgada de diámetro, especificación del substrato del carburo de silicio (sic) | ||||||||
Grado | Grado cero de MPD | Grado de la producción | Grado de la investigación | Grado simulado | ||||
Diámetro | 150,0 mm±0.2mm | |||||||
ThicknessΔ | 350 μm±25μm o 500±25un | |||||||
Orientación de la oblea | De eje: 4.0° hacia< 1120=""> ±0.5° para el eje de 4 H-N On: <0001> ±0.5° para 6H-SI/4H-SI | |||||||
Plano primario | {10-10} ±5.0° | |||||||
Longitud plana primaria | 47,5 mm±2.5 milímetro | |||||||
Exclusión del borde | 3 milímetros | |||||||
TTV/Bow /Warp | ≤15μm/≤40μm/≤60μm | |||||||
Densidad de Micropipe | cm2s ≤1 | cm2s ≤5 | cm2s ≤15 | cm2s ≤100 | ||||
Resistencia | 4H-N | 0.015~0.028 Ω·cm | ||||||
4/6H-SI | ≥1E5 Ω·cm | |||||||
Aspereza | Ra≤1 polaco nanómetro | |||||||
CMP Ra≤0.5 nanómetro | ||||||||
Grietas por la luz de intensidad alta | Ninguno | 1 permitida, ≤2 milímetro | ≤ acumulativo 10m m, solo length≤2mm de la longitud | |||||
Placas del hex. por la luz de intensidad alta | Área acumulativa el ≤1% | Área acumulativa el ≤2% | Área acumulativa el ≤5% | |||||
Áreas de Polytype por la luz de intensidad alta | Ninguno | El area≤2% acumulativo | El area≤5% acumulativo | |||||
Rasguños por la luz de intensidad alta | 3 rasguños a la longitud acumulativa del diámetro 1×wafer | 5 rasguños a la longitud acumulativa del diámetro 1×wafer | 5 rasguños a la longitud acumulativa del diámetro 1×wafer | |||||
Microprocesador del borde | Ninguno | 3 permitida, ≤0.5 milímetro cada uno | 5 permitida, ≤1 milímetro cada uno | |||||
Contaminación por la luz de intensidad alta | Ninguno |