| Nombre De La Marca: | ZMSH |
| MOQ: | 10 |
| Tiempo De Entrega: | 2-4 semanas |
| Condiciones De Pago: | T/T |
El...Substrato de 4H-SiCes un material de carburo de silicio de cristal único de alta pureza diseñado para electrónica de potencia avanzada, dispositivos de RF y aplicaciones optoelectrónicas.Producido mediante el método PVT y acabado con pulido de precisión CMP, cada sustrato presenta una densidad de defectos muy baja, una excelente conductividad térmica y características eléctricas estables.
Su tamaño compacto es ideal para I + D, prototipos de dispositivos, pruebas de laboratorio y producción a pequeña escala.
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Polítipo:4H-SiC
Conductividad:Dopaje de tipo N
Densidad de micropipos (MPD):< 1 cm−2
Densidad de dislocación:< 104 cm−2
Sección de Si (CMP):Ra ≤ 0,5 nm
Caracterización de las piezas:Ra ≤ 1 nm
Finalización lista para la epitaxia para un crecimiento epitaxial de alta calidad
Resistencia:0.01 ¥0.1 Ω·cm
Concentración del portador:1 × 1018 5 × 1019 cm−3
Ideal para estructuras de dispositivos de alta tensión y alta frecuencia
Conductividad térmica:490 W/m·K
Capacidad de temperatura de funcionamiento:hasta 600°C
Bajo coeficiente de expansión térmica:4.0×10−6 /K
Dureza de Vickers:28 ∼ 32 GPa
Resistencia a la flexión:> 400 MPa
Larga vida útil y excelente resistencia al desgaste
| Categoría | Especificación |
|---|---|
| El material | Cristales simples de 4H-SiC (tipo N) |
| Las dimensiones | 10 × 10 mm (± 0,05 mm) |
| Opciones de espesor | 100 ‰ 500 μm |
| Orientación | (0001) ± 0,5° |
| Calidad de la superficie | CMP / pulido, Ra ≤ 0,5 nm |
| Resistencia | 0.01 ¥0.1 Ω·cm |
| Conductividad térmica | 490 W/m·K |
| Los defectos | DMP < 1 cm−2 |
| El color | Tono de la superficie del té verde (típico de SiC) |
| Opciones de grado | Primero, Investigación, Tonto |
Tamaños no estándares: 5×5 mm, 5×10 mm, sustratos redondos de Ø2?? 8 pulgadas
El espesor:100 ‰ 500 μm o a medida
Orientación: 4°, 8° o en el eje
Finalización de la superficie: Polido de una sola cara / polido de dos caras
Doping: tipo N, tipo P, semi-aislante
Metalización de la parte posterior
Ideal para MOSFETs SiC, SBDs, diodos y prototipos de dispositivos de alto voltaje.
Se utiliza para amplificadores de potencia de RF (PA), interruptores y dispositivos de onda milimétrica.
Apoya el desarrollo de inversores EV, I + D de módulos de potencia y pruebas de banda ancha.
Componentes electrónicos resistentes a altas temperaturas y radiación.
LEDs UV, fotodiodos, diodos láser y estructuras de GaN en SiC.
Investigación de materiales, experimentos de epitaxia, fabricación de dispositivos.
Preguntas frecuentes
1¿Cuál es la principal ventaja de 4H-SiC en comparación con 6H-SiC?
El 4H-SiC ofrece una mayor movilidad de electrones, una menor resistencia y un rendimiento superior en dispositivos de alta potencia y alta frecuencia.y módulos de potencia avanzados.
2¿Proporciona sustratos de SiC conductores o semi-aislantes?
Sí, ofrecemos 4H-SiC conductor tipo N para electrónica de potencia y 4H-SiC semi-isolante para aplicaciones de detectores de RF, microondas y UV.
3¿Se puede utilizar el sustrato directamente para la epitaxia?
Sí, nuestros sustratos de 4H-SiC preparados para epi presentan superficies de Si pulidas con CMP con baja densidad de defectos, adecuadas para el crecimiento epitaxial de las capas de GaN, AlN y SiC.