Detalles del producto
Lugar de origen: China.
Nombre de la marca: ZMSH
Certificación: rohs
Número de modelo: 4H-P SiC
Condiciones de pago y envío
Cantidad de orden mínima: 10 por ciento
Precio: by case
Detalles de empaquetado: caja de plástico personalizada
Tiempo de entrega: en 30days
Condiciones de pago: T/T
Capacidad de la fuente: 1000pc/month
Dureza de la superficie: |
HV0.3>2500 |
Densidad: |
3.21 G/cm3 |
Coeficiente de expansión térmica: |
4,5 X 10-6/K |
Constante dieléctrica: |
9,7 |
Resistencia a la tracción: |
>400MPa |
tamaño: |
6 pulgadas |
Tensión de ruptura: |
5,5 milivoltios/cm |
Aplicaciones: |
Electrónica de potencia, láseres |
Dureza de la superficie: |
HV0.3>2500 |
Densidad: |
3.21 G/cm3 |
Coeficiente de expansión térmica: |
4,5 X 10-6/K |
Constante dieléctrica: |
9,7 |
Resistencia a la tracción: |
>400MPa |
tamaño: |
6 pulgadas |
Tensión de ruptura: |
5,5 milivoltios/cm |
Aplicaciones: |
Electrónica de potencia, láseres |
El carburo de silicio 4H-P (SiC) es un material semiconductor importante comúnmente utilizado en dispositivos electrónicos de alta temperatura, alta frecuencia y alta potencia.El 4H-SiC es un tipo de estructura cristalina que tiene una estructura de red hexagonalEl amplio intervalo de banda (aproximadamente 3,26 eV) le permite funcionar en ambientes de alta temperatura y alto voltaje.puede guiar y disipar el calor de manera efectivaEl carburo de silicio dopado tipo P tiene una baja resistividad y es adecuado para la construcción de uniones PN.Se espera que la demanda de carburo de silicio tipo 4H-P siga creciendo, impulsando la investigación y los avances tecnológicos relacionados.
Características:
Especificación del sustrato de carburo de silicio (SiC) de 6 pulgadas de diámetro | |||||
Grado | Producción de MPD cero Grado (grado Z) |
Producción estándar Grado (grado P) |
Grado de imitación (Grado D) |
||
Diámetro | 145.5 mm ~ 150,0 mm | ||||
El grosor | Se aplicarán las siguientes medidas: | ||||
Orientación de la oblea | Fuera del eje: 2,0°-4,0° hacia [1120] ± 0,5° para 4H/6H-P, En el eje: 1111 ± 0,5° para 3C-N | ||||
Densidad de los microtubos | 0 cm-2 | ||||
Resistencia | el tipo p 4H/6H-P | ≤ 0,1 Ω.cm | ≤ 0,3 Ω.cm | ||
Orientación plana primaria | el tipo p 4H/6H-P | {1010} ± 5,0° | |||
Duración plana primaria | 32.5 mm ± 2,0 mm | ||||
Duración plana secundaria | 18.0 mm ± 2,0 mm | ||||
Orientación plana secundaria | Silicón hacia arriba: 90° CW. desde el plano Prime ± 5,0° | ||||
Exclusión del borde | 3 mm | 6 mm | |||
El valor de las emisiones de gases de efecto invernadero es el valor de las emisiones de gases de efecto invernadero. | Se aplicarán las siguientes medidas: | Se aplicarán las siguientes medidas: | |||
La rugosidad | Polish Ra≤1 nm | ||||
CMP Ra≤0,2 nm | Ra ≤ 0,5 nm | ||||
Las grietas de borde por la luz de alta intensidad | No hay | Duración acumulada ≤ 10 mm, longitud única ≤ 2 mm | |||
Placas hexagonales con luz de alta intensidad | Área acumulada ≤ 0,05% | Área acumulada ≤ 0,1% | |||
Áreas de politipo por luz de alta intensidad | No hay | Área acumulada ≤ 3% | |||
Inclusiones de carbono visual | Área acumulada ≤ 0,05% | Área acumulada ≤ 3% | |||
La superficie del silicio se araña con luz de alta intensidad | No hay | Duración acumulada ≤ 1 × diámetro de la oblea | |||
Chips de borde de alta intensidad de luz | Ninguno ≥ 0,2 mm de ancho y profundidad | 5 permitidos, ≤ 1 mm cada uno | |||
Contaminación de la superficie del silicio por alta intensidad | No hay | ||||
Embalaje | Contenedor de una sola o varias obleas |
Preguntas frecuentes:
1P: ¿Ofrece servicio personalizado para el sustrato SIC tipo 4H-P?
R: Sí, nuestra empresa proporciona servicio personalizado para el sustrato de carburo de silicio tipo 4H-P. Los clientes pueden elegir sustratos con diferentes especificaciones y parámetros, como diámetro, grosor,concentración de dopaje, etc., de acuerdo con sus necesidades específicas para satisfacer los requisitos de aplicaciones específicas.
2P: ¿Cómo se asegura la calidad del sustrato de carburo de silicio tipo 4H-P?
R: Nuestra empresa asegura la calidad del sustrato de carburo de silicio tipo 4H-P a través de un estricto control de procesos e inspección de calidad.corte y pulido hasta la inspección final, cada paso sigue estándares elevados y requisitos estrictos para garantizar que los productos cumplan con las expectativas de los clientes y las normas de la industria.
Etiqueta: #SIC, #Sic carburo de sustrato, # 4H tipo de cristal, # conductividad tipo P, # Semiconductor materiales, # Sic 4H-P tipo.