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Wafer de carburo de silicio de 8 pulgadas Wafer de carburo de silicio Prime Dummy Research Grade 500um 350 Um

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Wafer de carburo de silicio de 8 pulgadas Wafer de carburo de silicio Prime Dummy Research Grade 500um 350 Um

8inch SiC Wafer Silicon Carbide Wafer Prime Dummy Research Grade 500um 350 Um
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Ampliación de imagen :  Wafer de carburo de silicio de 8 pulgadas Wafer de carburo de silicio Prime Dummy Research Grade 500um 350 Um

Datos del producto:
Lugar de origen: Shangai China
Nombre de la marca: ZMSH
Certificación: ROHS
Número de modelo: Wafer de SiC de 8 pulgadas
Pago y Envío Términos:
Tiempo de entrega: en 30 días
Condiciones de pago: T/T
Descripción detallada del producto
Producto: 4H-N 8 pulgadas SiC Grado: Grado de investigación de maniquí superior
Diámetro: 8inch Aplicaciones: Llevar la prueba
Superficie: Las demás: El color: El verde
Resaltar:

oblea del carburo de silicio 8Inch

,

Primero maniquí Wafer de carburo de silicio

,

Wafer de 500 mm de SiC

Wafer de carburo de silicio de 8 pulgadas Wafer de carburo de silicio primer maniquí de investigación grado 500um 350 um

Introducción del producto

Nuestra compañía se especializa en el suministro de obleas de carburo de silicio de 8 pulgadas de cristal único de alta calidad para la industria electrónica y optoelectrónica.SiC es un material semiconductor de próxima generación conocido por sus propiedades eléctricas y térmicas únicasEn comparación con las obleas de silicio y GaAs, el SiC es particularmente adecuado para dispositivos de alta temperatura y alta potencia.

Nuestras obleas de SiC de 8 pulgadas abarcan varios tipos y grados para satisfacer diferentes requisitos de aplicación.cada uno con su propia estructura cristalina específica y secuencia de apilamiento de átomosEstas obleas están disponibles en diferentes tipos de conductividad, incluidas las variaciones de tipo N, dopadas con nitrógeno y semi-aislantes.

Además del tipo y el grado, entendemos la importancia de especificaciones adicionales para garantizar un rendimiento y una calidad óptimos.y la densidad de defectos son factores cruciales para determinar la idoneidad de las obleas de SiC para aplicaciones específicasProporcionamos información completa sobre el producto y podemos ofrecer más detalles si se solicita.

El carburo de silicio (SiC) encontró inicialmente un uso industrial como material abrasivo y más tarde ganó importancia en la tecnología LED.sus excepcionales propiedades físicas han llevado a su amplia adopción en varias aplicaciones de semiconductores en todas las industriasCon las limitaciones de la Ley de Moore acercándose, muchas compañías de semiconductores están recurriendo al SiC como el material del futuro debido a sus características de rendimiento sobresalientes.

En la industria de los semiconductores, el 4H-SiC es más comúnmente empleado en comparación con el 6H-SiC. Las designaciones 4H- y 6H- se refieren a la estructura de red cristalina del carburo de silicio,indicando la secuencia específica de apilamiento de los átomos dentro del cristal.

Siéntase libre de contactarnos para obtener más información sobre nuestra gama de obleas SiC de 8 pulgadas y cómo pueden satisfacer sus requisitos específicos en el panorama de semiconductores en rápida evolución.

Parámetro del producto

Producto 4H-SiC
Grado Grado I Grado II Grado III
zonas policristalinas Ninguno permitido Ninguno permitido < 5%
áreas de politipo Ninguno permitido ≤ 20% 20% ~ 50%
Densidad de micropipas) Se utilizará el método de ensayo de la muestra. Se aplican las siguientes medidas: < 100 micropipos/cm-2
Área total utilizable > 95 por ciento > 80% No incluido
El grosor 500 μm ± 25 μm o según las especificaciones del cliente
Agentes de superación n tipo: nitrógeno
Orientación plana primaria) Perpendicular a < 11-20> ± 5,0°
Duración plana primaria 32.5 mm ± 2,0 mm
Orientación plana secundaria) 90° CW desde el plano primario ± 5,0°
Duración plana secundaria) 18.0 mm ± 2,0 mm
En el eje Orientación de la oblea) {0001} ± 0,25°
Orientación de la oblea fuera del eje 4.0° hacia <11-20> ± 0,5° o según las especificaciones del cliente
TTV/BOW/Warp Se aplicarán las siguientes medidas:
Resistencia 0.01 ~ 0.03 Ω × cm
Finalización de la superficie C Polvo para la cara.Si Face CMP (Si face: Rq < 0,15 nm) o especificación del cliente

Polvo de doble cara

Presentación del producto

Wafer de carburo de silicio de 8 pulgadas Wafer de carburo de silicio Prime Dummy Research Grade 500um 350 Um 0

Tecnología de producción

El proceso de fabricación de obleas de carburo de silicio (SiC) de 8 pulgadas implica varios pasos críticos para garantizar su calidad y idoneidad para aplicaciones de semiconductores.

Batch Lapping: Una vez que una bola de cristal de SiC se convierte en obleas individuales, se cargan en un sistema de batch lapping.Este sistema reduce el grosor de las obleas y asegura que las superficies superior e inferior sean paralelasCada oblea se descarga manualmente, se mide y se clasifica según el grosor.
Preparación de la superficie: La preparación de la superficie es crucial para la fabricación de obleas de SiC de alta calidad.La densidad de las dislocaciones y los arañazos debe mantenerse por debajo de un cierto nivel para cumplir con las normas de calidad.Si la superficie es demasiado áspera, se usa una sierra de alambre para rugirla, aunque este proceso requiere mucha mano de obra y es costoso.
Proceso de recuperación de obleas: X-Trinsic ofrece un proceso de recuperación de obleas, donde se elimina la capa superficial dañada de una obleas y se vuelve a pulir para restaurarla a un estado listo para el dispositivo.Este proceso puede ahorrar costes a las empresas y aumentar el rendimiento de una determinada oblea hasta en un 50%.
Procesamiento por lotes: la producción actual de obleas de SiC se realiza típicamente utilizando herramientas de procesamiento por lotes, que tienen un rendimiento más bajo y se limitan a obleas más pequeñas.a medida que la industria se mueve hacia tamaños de obleas más grandes, las herramientas de procesamiento por lotes pueden necesitar adaptarse para acomodar obleas más grandes de manera eficiente.
Inspección y eliminación de defectos: durante el proceso de fabricación, los cristales de SiC se comprueban para detectar dislocaciones y defectos.y se eliminan los defectos para garantizar el rendimiento general y la calidad de las obleas de semiconductores.
Procesamiento de películas de pureza y epitaxial: después de que se fabrica el sustrato de silicio, se procesa para garantizar la mayor pureza posible.El procesamiento adecuado es esencial para evitar la creación de defectos en la película epitaxial, lo que resulta en obleas de mejor calidad y más eficientes que pueden adaptarse a requisitos específicos.

En general, el proceso de fabricación de obleas de SiC de 8 pulgadas implica una serie de pasos precisos para producir materiales semiconductores de alta calidad adecuados para una variedad de aplicaciones.

Preguntas frecuentes:

P: ¿Cuál es la forma de envío y el costo?

A: ((1) Aceptamos DHL, Fedex, EMS, etc.

(2) está bien si usted tiene su propia cuenta expreso, si no, podríamos ayudarle a enviarlos y

El flete está de acuerdo con la liquidación real.

P: ¿Cómo se paga?

R: T/T 100% depósito antes de la entrega.

P: ¿Cuál es su MOQ?

R: (1) Para el inventario, el MOQ es 1pcs. si 2-5pcs es mejor.

(2) Para los productos personalizados, el MOQ es de 10pcs.

P: ¿Cuál es el tiempo de entrega?

A: (1) Para los productos estándar

Para el inventario: la entrega es de 5 días hábiles después de realizar el pedido.

Para productos personalizados: la entrega es de 2 a 4 semanas después de que usted pida contacto.

P: ¿Tiene productos estándar?

R: Nuestros productos estándar en stock. como los sustratos de 4 pulgadas 0,35 mm.

Contacto
SHANGHAI FAMOUS TRADE CO.,LTD

Persona de Contacto: Mr. Wang

Teléfono: +8615801942596

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