| Nombre De La Marca: | ZMSH |
| MOQ: | 50 |
| Tiempo De Entrega: | 2-4 SEMANAS |
| Condiciones De Pago: | T/T |
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1Introducción completa del producto
El sustrato de carburo de silicio (SiC) de 12 pulgadas (300 mm) representa la frontera actual en la tecnología de semiconductores de banda ancha (WBG).A medida que la industria mundial se mueve hacia una mayor eficiencia y mayor densidad de energía, esta plataforma cristalina de gran diámetro proporciona la base esencial para la próxima generación de electrónica de potencia y sistemas de RF.
Ventajas estratégicas clave:
Oferta de productos de grado:
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Carburo de silicio 4H-N (tipo conductor)
El politipo 4H-N es una estructura cristalina hexagonal dopada con nitrógeno conocida por sus robustas propiedades físicas.
Carburo de silicio 4H-SI (tipo semi-aislante)
Nuestros sustratos SI se caracterizan por una resistencia excepcionalmente alta y mínimos defectos cristalinos.
Nuestro proceso de fabricación está integrado verticalmente para garantizar un control de calidad total desde la materia prima hasta la obletera terminada.
| Punto de trabajo | Producción del tipo N | El tipo N | Producción del tipo SI |
|---|---|---|---|
| Polítipo | 4 horas | 4 horas | 4 horas |
| Tipo de dopaje | El nitrógeno (tipo N) | El nitrógeno (tipo N) | Las demás: |
| Diámetro | 300 ± 0,5 mm | 300 ± 0,5 mm | 300 ± 0,5 mm |
| Espesor (verde/trans) | 600/700 ± 100 μm | 600/700 ± 100 μm | 600/700 ± 100 μm |
| Orientación de la superficie | 4.0° hacia <11-20> | 4.0° hacia <11-20> | 4.0° hacia <11-20> |
| Precisión de la orientación | ± 0,5° | ± 0,5° | ± 0,5° |
| Piso primario | Noche / Ronda completa | Noche / Ronda completa | Noche / Ronda completa |
| Profundidad de muesca | 1.0 ️ 1,5 mm | 1.0 ️ 1,5 mm | 1.0 ️ 1,5 mm |
| Planabilidad (TTV) | ≤ 10 μm | No incluido | ≤ 10 μm |
| Densidad de micropipo (MPD) | ≤ 5 EE/cm2 | No incluido | ≤ 5 EE/cm2 |
| Finalización de la superficie | Preparado para epi (CMP) | Mejora de la precisión | Preparado para epi (CMP) |
| Procesamiento de bordes | Camarones redondeados | No hay Chamfer. | Camarones redondeados |
| Inspección de las grietas | Ninguno (excepto 3 mm) | Ninguno (excepto 3 mm) | Ninguno (excepto 3 mm) |
Utilizamos un protocolo de inspección de varios pasos para garantizar un rendimiento constante en su línea de producción:
R: Al proporcionar un área de superficie mucho más grande, se pueden fabricar significativamente más chips por oblea.hacer que sus productos finales de semiconductores sean más competitivos en el mercado.
R: La orientación de 4° hacia el plano <11-20> está optimizada para un crecimiento epitaxial de alta calidad, lo que ayuda a prevenir la formación de politipos no deseados y reduce las dislocaciones del plano basal (BPD).
R: Sí. Ofrecemos el marcado con láser personalizado en el lado C (cara de carbono) de acuerdo con los estándares SEMI o los requisitos específicos del cliente para garantizar la trazabilidad completa del lote.
R: Sí, el N-type Dummy Grade comparte las mismas propiedades térmicas que el Production Grade, lo que lo hace perfecto para probar ciclos térmicos, calibración del horno y sistemas de manipulación.