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Detalles de los productos

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Sic substrato
Created with Pixso. Sustratos de carburo de silicio SiC 4H-N / Semiconductores

Sustratos de carburo de silicio SiC 4H-N / Semiconductores

Nombre De La Marca: ZMSH
Número De Modelo: 4h-n
MOQ: 3 piezas
Precio: by size and grade
Tiempo De Entrega: 1-4 semanas
Condiciones De Pago: T/T, Unión Occidental
Información detallada
Lugar de origen:
Porcelana
Certificación:
CE
Materiales:
SIC cristalino
Tipo:
4h-n
Pureza:
99.9995%
Resistividad:
los 0.015~0.028ohm.cm
Tamaño:
2-8inch 2inch, 3inch, 4inch, 6inch, 8inch
Aplicación:
para el SBD, MOS Device
TTV:
≤ 15um
Arco:
≤ 25um
Urdimbre:
≤ 5um
Detalles de empaquetado:
sola caja del envase de la oblea o caja del casete 25pc
Capacidad de la fuente:
1000pc/mes
Resaltar:

Sustratos de SiC 4H-N

,

Sustratos de SiC semiconductores

Descripción de producto
Tipo 4H-N/ Sustratos de SiC semiaislantes: obleas de carburo de silicio de alto rendimiento para electrónica de potencia
Descripción general del producto

Los sustratos de carburo de silicio (SiC) semiaislantes y de tipo 4H-N son obleas monocristalinas de alta pureza fabricadas mediante el método de transporte físico de vapor (PVT). Estos sustratos exhiben excelentes propiedades eléctricas y térmicas, incluidas características de banda prohibida amplia, campo eléctrico de alta ruptura y conductividad térmica excepcional. Ideales para el crecimiento epitaxial de materiales de SiC o III-nitruro, sirven como componentes fundamentales clave en dispositivos electrónicos de alta potencia, alta frecuencia y alta temperatura.

Características clave
  • Excelentes propiedades eléctricas:
    • Tipo 4H-N: Resistividad 0,015–0,028 Ω·cm
    • Tipo Semi-Aislante: Resistividad ≥10⁵ Ω·cm
  • Calidad geométrica superior:
    • Variación de espesor total (TTV) ≤ 15 µm
    • Arco ≤ 40 µm, Deformación ≤ 60 µm
  • Control de orientación preciso:
    • Orientación en el eje: <±0,5°
    • Corte fuera del eje: 4°±0,5° hacia la dirección [11-20]
  • Acabado superficial controlado:
    • Superficie pulida estándar: Ra ≤ 1 nm
    • Superficie pulida CMP: Ra ≤ 0,5 nm
Aplicaciones típicas
  • Electrónica de potencia: Diodos de barrera Schottky (SBD), MOSFET, IGBT
  • Dispositivos de RF y microondas: Amplificadores de potencia de alta frecuencia, MMIC
  • Optoelectrónica: Sustratos epitaxiales láser y LED basados ​​en GaN
  • Sensores de alta temperatura: Aplicaciones en el sector automovilístico, aeroespacial y energético

Sustratos de carburo de silicio SiC 4H-N / Semiconductores 0

Especificaciones técnicas
Parámetro Especificación Notas
Diámetro de la oblea 2 pulgadas (50,8 mm) / 4 pulgadas (101.6milímetros) Diámetros personalizados disponibles
Espesor 330–500 µm (tolerancia de ±25 µm) Espesor personalizado bajo pedido
Precisión de orientación En el eje <±0,5°; Fuera del eje 4°±0,5° Hacia [11-20]
Densidad del microtubo Grado cero: ≤1 cm⁻²; Grado de producción: ≤5 cm⁻² Medido por microscopía óptica.
Rugosidad de la superficie Pulido: Ra ≤ 1 nm; CMP: Ra ≤ 0,5 nm AFM verificado
Contexto de la cadena industrial de SiC

La industria del carburo de silicio abarca la preparación de sustratos, el crecimiento epitaxial, la fabricación de dispositivos y las aplicaciones de uso final. Utilizando el método PVT, se producen sustratos de SiC monocristalinos de alta calidad, que sirven como base para la deposición epitaxial (mediante CVD) y la posterior fabricación del dispositivo. ZMSH suministra obleas de SiC de 100 mm y 150 mm que cumplen con estrictos requisitos industriales para aplicaciones de alta potencia y alta frecuencia.
Sustratos de carburo de silicio SiC 4H-N / Semiconductores 1

Preguntas frecuentes (FAQ)

P: ¿Cuál es la cantidad mínima de pedido (MOQ)?

R: Productos estándar: 3 piezas; Especificaciones personalizadas: 10 piezas y más.

P: ¿Puedo solicitar parámetros eléctricos o geométricos personalizados?

R: Sí, admitimos la personalización de resistividad, espesor, orientación y acabado de superficie.

P: ¿Cuál es el tiempo de entrega típico?

R: Artículos estándar: 5 días hábiles; Pedidos personalizados: 2 a 3 semanas; Especificaciones especiales: ~4 semanas.

P: ¿Qué documentación se proporciona con el pedido?

R: Cada envío incluye un informe de prueba que cubre el mapeo de resistividad, los parámetros geométricos y la densidad de los microtubos.

Etiquetas:
Sustrato de SiC #4H-SiC #Wafer de carburo de silicio #PowerElectronics #Semiconductor #Dispositivos de alta frecuencia #WideBandgap #ZMSH

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