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Obleas de 4 pulgadas, 6 pulgadas, 8 pulgadas, 4H-SiCOI, sustratos compuestos de SiC sobre aislante

Detalles del producto

Place of Origin: CHINA

Nombre de la marca: ZMSH

Certificación: rohs

Model Number: SiCOI Wafers

Condiciones de pago y envío

Precio: by case

Delivery Time: 2-4weeks

Payment Terms: T/T

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Resaltar:

Wafers de 4H-SiCOI de 8 pulgadas

,

Wafers de 4 pulgadas de 4H-SiCOI

,

Wafers de 4H-SiCOI de 6 pulgadas

Size:
4inch/6inch/8inch
Surface Roughness:
Ra<0.5nm
Fracture Toughness:
3.5 MPa·m¹/²
CTE (4H-SiC):
4.2×10⁻⁶/K
Resistivity (SI):
>1×10⁶ Ω·cm
Application:
Power electronics, radio frequency and 5G communication
Size:
4inch/6inch/8inch
Surface Roughness:
Ra<0.5nm
Fracture Toughness:
3.5 MPa·m¹/²
CTE (4H-SiC):
4.2×10⁻⁶/K
Resistivity (SI):
>1×10⁶ Ω·cm
Application:
Power electronics, radio frequency and 5G communication
Obleas de 4 pulgadas, 6 pulgadas, 8 pulgadas, 4H-SiCOI, sustratos compuestos de SiC sobre aislante

 

Resumen de lasOferta de SiCOI

 

 

 

4 pulgadas 6 pulgadas 8 pulgadas 4 H-SiCOI obleas SiC compuesto en sustratos aislantes

 

Las obleas SICOI (Carburo de silicio en aislante) representan una tecnología de sustrato compuesto avanzada fabricada a través de procesos de Smart Cut TM o Bonding & Thinning. ZMSH supply 4-6 inch 4H-SICOI wafers by integrating high-quality SiC thin films with insulating layers (SiO₂/AlN) on silicon or SiC substrates via hydrophilic bonding or plasma-activated bonding techniques. Proceso Smart CutTM: utiliza el implante de iones de hidrógeno, la unión a baja temperatura y la exfoliación de precisión para lograr capas de SiC ultrafinas (50nm-20μm) con uniformidad de espesor de ±20nm,ideal para alta frecuencia, dispositivos de baja pérdida. Proceso de molienda + CMP: adecuado para requisitos de película más gruesa (200 nm a espesores personalizados) con uniformidad ± 100 nm, ofreciendo eficiencia de costos para aplicaciones de electrónica de potencia. Las ZMSH proporcionan películas de SiC conductoras o semi-aislantes personalizables,con opciones para la optimización del recocido por implantación iónica o el adelgazamiento o pulido directo para satisfacer diversos requisitos de rendimiento y costo.

 

 


 

Características clave deOferta de SiCOI

 

 

Componente Propiedad Especificación Norma de medición
Película de 4H-SiC Estructura de cristal 4H-SiC de un solo cristal Las demás partidas
Densidad de defectos < 103 cm−2 (dislocaciones de roscado)  
Roughness de la superficie (Ra) < 0,5 nm Medición del AFM
Resistencia semisolante > 106 Ω·cm Sección MF397
Rango de dopaje del tipo N 1016 a 1019 cm−3  
Conductividad térmica Las emisiones de gases de efecto invernadero de combustibles fósiles  
Capa de SiO2 Método de formación Oxidación térmica  
Constante dieléctrica (ε) 3.9 Se aplicarán las siguientes medidas:
Fuerza del campo de ruptura > 10 MV/cm  
Densidad de la trampa de la interfaz < 1011 cm-2eV-1  
Si Substrato Expansión térmica (CTE) - 3,5 × 10 - 6 °C  
Arco de obleas (8 pulgadas) < 50 μm Sección M1
Estabilidad a temperatura > 300 °C  
Rendimiento integrado Apoyo de tamaño de la oblea Formatos de 4 a 8 pulgadas  

 

 


 

Las aplicaciones principales deOferta de SiCOI

 

 

Obleas de 4 pulgadas, 6 pulgadas, 8 pulgadas, 4H-SiCOI, sustratos compuestos de SiC sobre aislante 0

1. Energía electrónica

 

Inversores EV: Los MOSFET SiC en sustratos SICOI funcionan a 1200V con pérdidas de conmutación 30% más bajas, compatibles con sistemas de carga rápida de 800V.

Motor industrial: las obleas SICOI con capas aislantes de AlN mejoran la disipación de calor en un 50%, apoyando el embalaje de módulos > 10kW.

 

 

2. Comunicaciones RF y 5G

 

Amplificadores de potencia de onda de mm: los HEMT GaN en SICOI semi-aislantes alcanzan una salida de 8W/mm a 28GHz con una eficiencia > 65%.

Antennas de matriz en fase: baja pérdida dieléctrica (tanδ <0,001) minimiza la atenuación de la señal para las comunicaciones por satélite.

 

 

3Computación cuántica y sensores

 

Spin Qubit Carriers: las películas de SiC ultrafinas (<100nm) proporcionan entornos de bajo ruido, extendiendo los tiempos de coherencia más allá de 1 ms.

Sensores MEMS de alta velocidad: funcionamiento estable a 300 °C para el monitoreo de motores aeroespaciales.

 

 

4Electrónica de consumo

 

IC de carga rápida: Los dispositivos GaN basados en SICOI permiten cargar > 200W con una huella 40% menor.

 

 


 

Servicios de la ZMSH

 

 

Como proveedor líder de sustratos de semiconductores de banda ancha, ofrecemos soporte técnico de extremo a extremo desde I + D hasta la producción en masa:

· Desarrollo personalizado: Optimizar el espesor de la película de SiC (en nanoescala a micras), el dopaje (tipo N/P) y las capas aislantes (SiO2/AlN/Si3N4) según los requisitos del dispositivo.

· Consulta de procesos: recomendar soluciones Smart CutTM (alta precisión) o Grinding+CMP (efectivas en términos de costes) con datos comparativos.

· Pruebas a nivel de obleas: incluye el análisis del estado de la interfaz, el mapeo de la resistencia térmica y la validación de la fiabilidad de alta tensión.

 

 

 

Obleas de 4 pulgadas, 6 pulgadas, 8 pulgadas, 4H-SiCOI, sustratos compuestos de SiC sobre aislante 1Obleas de 4 pulgadas, 6 pulgadas, 8 pulgadas, 4H-SiCOI, sustratos compuestos de SiC sobre aislante 2

 

 


 

Pregunta y respuesta.

 

 

1P: ¿Qué es una oblea SICOI?
R: La oblea SICOI (Carburo de Silicio en aislante) es un sustrato compuesto avanzado que integra una película monocristalina 4H-SiC con una capa aislante de SiO2 sobre una base de silicio/zafiro.que permiten dispositivos de alta potencia y RF con un rendimiento térmico/eléctrico superior.

 

 

2P: ¿Cómo se compara SICOI con SOI?
R: SICOI ofrece una conductividad térmica 5 veces mayor (> 300W / m · K) y un voltaje de ruptura 3 veces mayor (> 8MV / cm) que SOI, lo que lo hace ideal para electrónica de potencia de 800V + y aplicaciones 5G mmWave.

 

 


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