A medida que los dispositivos semiconductores continúan evolucionando hacia obleas más delgadas, estructuras más frágiles y una mayor densidad de integración, las tecnologías convencionales de corte de obleas se ven cada vez más desafiadas.Dispositivos MEMS, chips de memoria, semiconductores de potencia y paquetes ultrafinos exigen una mayor resistencia del chip, una contaminación mínima y una estabilidad de rendimiento superior.
La tecnología Stealth DicingTM introduce un enfoque fundamentalmente diferente para la separación de obleas.Stealth Dicing utiliza un proceso interno de modificación con láser para iniciar una fractura controlada dentro de la obleaLa oblea se separa luego aplicando tensión de tracción externa, eliminando el daño superficial, los escombros y la pérdida de corte.
Este proceso seco y sin contacto proporciona ventajas significativas en rendimiento, resistencia, limpieza y eficiencia de procesamiento.convirtiéndola en una tecnología clave para la fabricación de semiconductores de próxima generación..
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El corte de cuchillas utiliza una hoja de diamante giratoria de alta velocidad para cortar físicamente la oblea.
Las vibraciones mecánicas introducen tensión en el dispositivo
Se requiere agua de enfriamiento, lo que aumenta el riesgo de contaminación
La astillación se produce a lo largo de los bordes cortados
La pérdida de Kerf reduce el área utilizable de la oblea
Los escombros y las partículas pueden dañar estructuras frágiles
El rendimiento está limitado por la calidad del borde
La velocidad de procesamiento está limitada por el desgaste de la hoja
Para los dispositivos MEMS avanzados o las obleas ultra delgadas, estos problemas se vuelven aún más críticos.
El corte por ablación láser enfoca un haz láser en la superficie de la oblea para derretir y evaporar el material, formando ranuras que separan la oblea.
Aunque elimina el contacto mecánico, introduce efectos térmicos:
Zona afectada por el calor (HAZ) degrada la resistencia del material
El derretimiento de la superficie puede dañar las capas metálicas
Las partículas dispersas contaminan los dispositivos
Pueden requerirse procesos de recubrimiento protector adicionales
La resistencia de la viruta se reduce debido al estrés térmico
El rendimiento está limitado por la velocidad de eliminación del material
A medida que las geometrías de los dispositivos se vuelven más delicadas, los métodos de eliminación basados en la superficie presentan riesgos cada vez mayores.
El Dicing sigiloso opera con un principio físico completamente diferente:modificación interna en lugar de eliminación de material superficial.
El proceso consta de dos etapas principales:
Proceso de irradiación láser (formación de capa SD)
Proceso de expansión (separación controlada)
Un haz láser con una longitud de onda capaz de penetrar el material de la oblea se enfoca dentro de la oblea en lugar de en su superficie.
En el punto focal, se crea una capa modificada dentro de la estructura cristalina.Capa de detección furtiva (capa SD).
Características principales:
No hay ablación superficial
No hay eliminación de material
Inicio de las micro-grietas internas
Propagación controlada de grietas a lo largo de las líneas de corte planificadas
Las grietas se extienden desde la capa SD hacia las superficies superior e inferior.
Para obleas gruesas o dispositivos MEMS, se pueden crear múltiples capas SD a lo largo de la dirección de espesor para garantizar un control completo de la separación.
Dependiendo del grosor de la oblea, la estructura del dispositivo y la presencia de película metálica, se utilizan diferentes configuraciones de capa SD:
| Modo | Descripción | Estado del crack |
|---|---|---|
| ST (Invisible) | El crack sigue siendo interno. | No alcanza las superficies |
| HC (medio cortado) | La grieta alcanza la superficie superior | Separación parcial |
| BHC (Corte de la mitad inferior) | La grieta alcanza la superficie inferior | Separación en la parte inferior |
| FC (corte completo) | La grieta penetra en ambas superficies. | Separación completa |
Al seleccionar y combinar estos modos, se pueden lograr condiciones de procesamiento óptimas para varias estructuras de semiconductores.
Después de la formación de la capa SD, la oblea se monta en cinta de expansión.
La tensión de tracción aplicada hace que las grietas internas se extiendan naturalmente a las superficies de la oblea, separando las virutas individuales.
La separación se produce a través de la propagación controlada de grietas en lugar de la eliminación de material.
Esto ofrece varios beneficios:
No hay impacto mecánico en los dispositivos
No hay tensión térmica
No hay astillas.
No hay generación de residuos
No hay pérdida de corte
El corte furtivo resuelve fundamentalmente los problemas asociados con el corte con cuchilla y ablación.
A diferencia del corte de cuchillas, no se requiere agua de refrigeración.
Contaminación del agua
Re-deposición de partículas
Procesos de secado
Etapas de limpieza secundaria
El proceso es limpio y respetuoso con el medio ambiente.
El corte tradicional elimina el material para crear una calle de diques, lo que reduce el área utilizable de la oblea.
Stealth Dicing forma un plano de fractura interna sin eliminar el material, lo que significa:
Utilización máxima de las obleas
Número de fichas más alto por oblea
Mejora de la eficiencia de los costes
Debido a que no hay molienda o fusión de la superficie:
No hay astillamiento de los bordes
Zona no afectada por el calor
No hay degradación de la resistencia
Resistencia a la flexión superior
Esto es particularmente importante para las obleas ultrafinas de menos de 50 μm.
Al eliminar los desechos, el estrés y los daños térmicos:
Mejora la fiabilidad del dispositivo
Aumento del rendimiento
Las estructuras frágiles de la membrana MEMS permanecen intactas
El metal y las películas protectoras no se ven afectados.
Los sistemas ópticos avanzados como el ajustador de haz láser (LBA) mejoran la forma y el rendimiento del haz.
Además, SDBG (Stealth Dicing Before Grinding) permite procesar dispositivos ultrafinos mediante la formación de la capa SD antes del adelgazamiento.
Estos avances mejoran significativamente la productividad para la fabricación de grandes volúmenes.
| Punto de trabajo | El corte de cuchillas | Disolución por ablación | El dicing sigiloso |
|---|---|---|---|
| Método de tratamiento | Mecánica de molienda | Eliminación por láser de la superficie | Modificación interna del láser |
| Agua de refrigeración | Se requiere | Se requiere | No es necesario |
| Las piezas | Ocurre | Puede ocurrir | No ocurre |
| Zona afectada por el calor | - No, no lo sé. | - ¿ Qué? | - No, no lo sé. |
| Los residuos | - ¿ Qué? | - ¿ Qué? | - No, no lo sé. |
| Pérdida de cerradura | - ¿ Qué? | - ¿ Qué? | No hay |
| Fuerza del chip | Reducido | Reducido | En alto. |
| Rentabilidad | Moderado | Moderado | En alto. |
| Adecuado para obleas ultrafinas | En el sector privado | Es arriesgado | Es excelente. |
| Apto para MEMS | Riesgo de daños | Riesgo de contaminación | Lo ideal |
El dicing furtivo se utiliza ampliamente en:
Sensores MEMS con estructuras de membrana frágiles
Dispositivos de memoria NAND y DRAM
Dispositivos de semiconductores de potencia
Dispositivos lógicos CMOS
Dispositivos ópticos
Oferta con película metálica o protectora
Envases ultrafinos (< 50 μm)
La tecnología es especialmente ventajosa para dispositivos de alto valor y estructuralmente sensibles.
A medida que la fabricación de semiconductores avanza hacia:
Embalaje avanzado
Arquitecturas Chiplet
Integración de alta densidad
De las partidas de los tipos utilizados en la fabricación de los productos de la partida 85
Materiales de banda ancha (SiC, GaN)
La separación de obleas sin daños se vuelve cada vez más crítica.
El dicing sigiloso está posicionado como una tecnología clave en el procesamiento de semiconductores de próxima generación.
Su naturaleza de proceso seco también apoya iniciativas de fabricación ambientalmente responsables al reducir el uso de agua y la generación de residuos.
Stealth Dicing TM representa un cambio de paradigma en la tecnología de separación de obleas.
Al reemplazar el corte mecánico y la ablación de la superficie con la modificación interna con láser y la fractura controlada por estrés, elimina las astillas, los escombros, el daño térmico y la pérdida de corte.
El resultado es:
Una mayor resistencia de la viruta
Mejor rendimiento
Procesamiento más limpio
Mejor idoneidad para dispositivos ultrafinos y frágiles
Mejora de la eficiencia de la fabricación
Para los fabricantes de semiconductores que buscan una mayor fiabilidad, un mejor rendimiento y una mayor eficiencia de costos, Stealth Dicing proporciona una solución poderosa y preparada para el futuro.
A medida que los dispositivos semiconductores continúan evolucionando hacia obleas más delgadas, estructuras más frágiles y una mayor densidad de integración, las tecnologías convencionales de corte de obleas se ven cada vez más desafiadas.Dispositivos MEMS, chips de memoria, semiconductores de potencia y paquetes ultrafinos exigen una mayor resistencia del chip, una contaminación mínima y una estabilidad de rendimiento superior.
La tecnología Stealth DicingTM introduce un enfoque fundamentalmente diferente para la separación de obleas.Stealth Dicing utiliza un proceso interno de modificación con láser para iniciar una fractura controlada dentro de la obleaLa oblea se separa luego aplicando tensión de tracción externa, eliminando el daño superficial, los escombros y la pérdida de corte.
Este proceso seco y sin contacto proporciona ventajas significativas en rendimiento, resistencia, limpieza y eficiencia de procesamiento.convirtiéndola en una tecnología clave para la fabricación de semiconductores de próxima generación..
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El corte de cuchillas utiliza una hoja de diamante giratoria de alta velocidad para cortar físicamente la oblea.
Las vibraciones mecánicas introducen tensión en el dispositivo
Se requiere agua de enfriamiento, lo que aumenta el riesgo de contaminación
La astillación se produce a lo largo de los bordes cortados
La pérdida de Kerf reduce el área utilizable de la oblea
Los escombros y las partículas pueden dañar estructuras frágiles
El rendimiento está limitado por la calidad del borde
La velocidad de procesamiento está limitada por el desgaste de la hoja
Para los dispositivos MEMS avanzados o las obleas ultra delgadas, estos problemas se vuelven aún más críticos.
El corte por ablación láser enfoca un haz láser en la superficie de la oblea para derretir y evaporar el material, formando ranuras que separan la oblea.
Aunque elimina el contacto mecánico, introduce efectos térmicos:
Zona afectada por el calor (HAZ) degrada la resistencia del material
El derretimiento de la superficie puede dañar las capas metálicas
Las partículas dispersas contaminan los dispositivos
Pueden requerirse procesos de recubrimiento protector adicionales
La resistencia de la viruta se reduce debido al estrés térmico
El rendimiento está limitado por la velocidad de eliminación del material
A medida que las geometrías de los dispositivos se vuelven más delicadas, los métodos de eliminación basados en la superficie presentan riesgos cada vez mayores.
El Dicing sigiloso opera con un principio físico completamente diferente:modificación interna en lugar de eliminación de material superficial.
El proceso consta de dos etapas principales:
Proceso de irradiación láser (formación de capa SD)
Proceso de expansión (separación controlada)
Un haz láser con una longitud de onda capaz de penetrar el material de la oblea se enfoca dentro de la oblea en lugar de en su superficie.
En el punto focal, se crea una capa modificada dentro de la estructura cristalina.Capa de detección furtiva (capa SD).
Características principales:
No hay ablación superficial
No hay eliminación de material
Inicio de las micro-grietas internas
Propagación controlada de grietas a lo largo de las líneas de corte planificadas
Las grietas se extienden desde la capa SD hacia las superficies superior e inferior.
Para obleas gruesas o dispositivos MEMS, se pueden crear múltiples capas SD a lo largo de la dirección de espesor para garantizar un control completo de la separación.
Dependiendo del grosor de la oblea, la estructura del dispositivo y la presencia de película metálica, se utilizan diferentes configuraciones de capa SD:
| Modo | Descripción | Estado del crack |
|---|---|---|
| ST (Invisible) | El crack sigue siendo interno. | No alcanza las superficies |
| HC (medio cortado) | La grieta alcanza la superficie superior | Separación parcial |
| BHC (Corte de la mitad inferior) | La grieta alcanza la superficie inferior | Separación en la parte inferior |
| FC (corte completo) | La grieta penetra en ambas superficies. | Separación completa |
Al seleccionar y combinar estos modos, se pueden lograr condiciones de procesamiento óptimas para varias estructuras de semiconductores.
Después de la formación de la capa SD, la oblea se monta en cinta de expansión.
La tensión de tracción aplicada hace que las grietas internas se extiendan naturalmente a las superficies de la oblea, separando las virutas individuales.
La separación se produce a través de la propagación controlada de grietas en lugar de la eliminación de material.
Esto ofrece varios beneficios:
No hay impacto mecánico en los dispositivos
No hay tensión térmica
No hay astillas.
No hay generación de residuos
No hay pérdida de corte
El corte furtivo resuelve fundamentalmente los problemas asociados con el corte con cuchilla y ablación.
A diferencia del corte de cuchillas, no se requiere agua de refrigeración.
Contaminación del agua
Re-deposición de partículas
Procesos de secado
Etapas de limpieza secundaria
El proceso es limpio y respetuoso con el medio ambiente.
El corte tradicional elimina el material para crear una calle de diques, lo que reduce el área utilizable de la oblea.
Stealth Dicing forma un plano de fractura interna sin eliminar el material, lo que significa:
Utilización máxima de las obleas
Número de fichas más alto por oblea
Mejora de la eficiencia de los costes
Debido a que no hay molienda o fusión de la superficie:
No hay astillamiento de los bordes
Zona no afectada por el calor
No hay degradación de la resistencia
Resistencia a la flexión superior
Esto es particularmente importante para las obleas ultrafinas de menos de 50 μm.
Al eliminar los desechos, el estrés y los daños térmicos:
Mejora la fiabilidad del dispositivo
Aumento del rendimiento
Las estructuras frágiles de la membrana MEMS permanecen intactas
El metal y las películas protectoras no se ven afectados.
Los sistemas ópticos avanzados como el ajustador de haz láser (LBA) mejoran la forma y el rendimiento del haz.
Además, SDBG (Stealth Dicing Before Grinding) permite procesar dispositivos ultrafinos mediante la formación de la capa SD antes del adelgazamiento.
Estos avances mejoran significativamente la productividad para la fabricación de grandes volúmenes.
| Punto de trabajo | El corte de cuchillas | Disolución por ablación | El dicing sigiloso |
|---|---|---|---|
| Método de tratamiento | Mecánica de molienda | Eliminación por láser de la superficie | Modificación interna del láser |
| Agua de refrigeración | Se requiere | Se requiere | No es necesario |
| Las piezas | Ocurre | Puede ocurrir | No ocurre |
| Zona afectada por el calor | - No, no lo sé. | - ¿ Qué? | - No, no lo sé. |
| Los residuos | - ¿ Qué? | - ¿ Qué? | - No, no lo sé. |
| Pérdida de cerradura | - ¿ Qué? | - ¿ Qué? | No hay |
| Fuerza del chip | Reducido | Reducido | En alto. |
| Rentabilidad | Moderado | Moderado | En alto. |
| Adecuado para obleas ultrafinas | En el sector privado | Es arriesgado | Es excelente. |
| Apto para MEMS | Riesgo de daños | Riesgo de contaminación | Lo ideal |
El dicing furtivo se utiliza ampliamente en:
Sensores MEMS con estructuras de membrana frágiles
Dispositivos de memoria NAND y DRAM
Dispositivos de semiconductores de potencia
Dispositivos lógicos CMOS
Dispositivos ópticos
Oferta con película metálica o protectora
Envases ultrafinos (< 50 μm)
La tecnología es especialmente ventajosa para dispositivos de alto valor y estructuralmente sensibles.
A medida que la fabricación de semiconductores avanza hacia:
Embalaje avanzado
Arquitecturas Chiplet
Integración de alta densidad
De las partidas de los tipos utilizados en la fabricación de los productos de la partida 85
Materiales de banda ancha (SiC, GaN)
La separación de obleas sin daños se vuelve cada vez más crítica.
El dicing sigiloso está posicionado como una tecnología clave en el procesamiento de semiconductores de próxima generación.
Su naturaleza de proceso seco también apoya iniciativas de fabricación ambientalmente responsables al reducir el uso de agua y la generación de residuos.
Stealth Dicing TM representa un cambio de paradigma en la tecnología de separación de obleas.
Al reemplazar el corte mecánico y la ablación de la superficie con la modificación interna con láser y la fractura controlada por estrés, elimina las astillas, los escombros, el daño térmico y la pérdida de corte.
El resultado es:
Una mayor resistencia de la viruta
Mejor rendimiento
Procesamiento más limpio
Mejor idoneidad para dispositivos ultrafinos y frágiles
Mejora de la eficiencia de la fabricación
Para los fabricantes de semiconductores que buscan una mayor fiabilidad, un mejor rendimiento y una mayor eficiencia de costos, Stealth Dicing proporciona una solución poderosa y preparada para el futuro.