Análisis del recubrimiento óptico para lentes de sistemas láser de alta potencia
En los sistemas láser de alta potencia (como los dispositivos de fusión nuclear por láser, las máquinas de procesamiento láser industrial y los láseres ultra rápidos ultra intensos científicos), las lentes ópticas no solo sirven como guías para la trayectoria de la luz, sino también como nodos críticos para la transmisión de energía. Las superficies de las lentes sin recubrimiento pueden reflejar una parte significativa de la energía y absorber la energía del láser, lo que provoca calentamiento, lo que causa efectos de lente térmica e incluso daños permanentes. Por lo tanto, los recubrimientos ópticos de alto rendimiento son la garantía fundamental para el funcionamiento estable, eficiente y seguro de los sistemas láser de alta potencia.
I. Sustratos de lentes ópticas: Selección cuantitativa de parámetros clave de rendimiento
El rendimiento del recubrimiento es inseparable de las propiedades del sustrato. El sustrato no solo determina el punto de partida para el recubrimiento, sino que sus propiedades termodinámicas, ópticas y mecánicas también son la base para determinar si todo el componente puede soportar cargas de alta potencia. La selección de un sustrato requiere una consideración cuantitativa de los siguientes parámetros centrales:
Propiedades ópticas:El índice de refracción y el coeficiente de absorción son los puntos de partida para diseñar la pila de recubrimiento y evaluar la carga térmica. Cualquier absorción menor (por ejemplo, 10⁻³ cm⁻¹) puede producir efectos térmicos significativos a alta potencia.
Propiedades termodinámicas:La conductividad térmica determina la velocidad de disipación del calor, y el coeficiente de expansión térmica (CTE) afecta la magnitud de la tensión térmica. La falta de coincidencia entre el CTE del sustrato y la capa de recubrimiento es una causa principal de fallo.
Propiedades mecánicas:La dureza y el módulo elástico afectan la dificultad de procesamiento y la durabilidad ambiental.
Vidrio de cuarzo
Los materiales de sustrato láser de alta potencia comunes incluyen:
Obleas de cuarzo fundido ZMSH
Vidrio de borosilicato (por ejemplo, BK7):Menor costo, a menudo utilizado en escenarios de potencia media a baja, pero menor conductividad térmica y mayor CTE.
Obleas de vidrio de borosilicato alto ZMSH
Materiales cristalinos:Como silicio (Si), germanio (Ge) (para IR medio a lejano), zafiro (dureza extremadamente alta para entornos extremos), CaF₂/MgF₂ (para UV profundo). Estos suelen ser caros y difíciles de procesar.
Comparación de parámetros clave para sustratos láser de alta potencia convencionales (@1064nm):
|
Material |
Índice de refracción @1064nm |
CTE (×10⁻⁷/K) |
Conductividad térmica (W/m·K) |
Coeficiente de absorción (cm⁻¹) |
Aplicación típica y notas |
|
Sílice fundida |
~1.45 |
5.5 |
1.38 |
< 5 × 10⁻⁴ |
Estándar de oro. Para la mayoría de las aplicaciones de alta potencia de UV a NIR, excelente estabilidad térmica. |
|
BK7 |
~1.51 |
71 |
1.1 |
~1 × 10⁻³ |
Para potencia media-baja. Mal rendimiento térmico, lente térmica significativa. |
|
Sílice sintética |
~1.45 |
5.5 |
1.38 |
< 2 × 10⁻⁴ |
Pureza ultra alta, impurezas metálicas muy bajas (<1 ppm), LIDT 20-30% más alto que la sílice fundida normal. |
|
Silicio (Si) |
~3.55 |
26 |
149 |
N/A |
Principalmente para la banda IR media de 3-5 μm. La alta conductividad térmica es la principal ventaja. |
|
Zafiro (Al₂O₃) |
~1.76 |
58 |
27.5 |
Muy bajo |
Dureza extremadamente alta y buena conductividad térmica, para entornos hostiles, UV, luz visible. |
Interpretación de datos:
Cálculo de la lente térmica:Para un láser de onda continua de 100 W, la distorsión térmica generada en un sustrato BK7 con un coeficiente de absorción de 1×10⁻³ cm⁻¹ puede ser varias veces mayor que en un sustrato de sílice fundida con un coeficiente de absorción de 5×10⁻⁴ cm⁻¹.
Análisis de tensión térmica:La diferencia en el CTE afecta directamente la tensión térmica en la interfaz sustrato-recubrimiento. La falta de coincidencia del CTE es la causa principal de agrietamiento o deslaminación del recubrimiento bajo ciclos térmicos de alta potencia.
Umbral de daño por láser
II. Indicadores cuantitativos para los requisitos de recubrimiento
1. Umbral de daño inducido por láser (LIDT):
Estándar de medición:Sigue el estándar ISO 21254.
Niveles de rendimiento:
Recubrimiento por evaporación por haz de electrones convencional: ~5-15 J/cm² (pulso de nanosegundos, 1064 nm)
Recubrimiento por deposición asistida por iones (IAD): ~15-25 J/cm²
Recubrimiento por pulverización con haz de iones (IBS): > 30 J/cm², los procesos de primer nivel pueden superar los 50 J/cm².
2. Pérdidas por absorción y dispersión:
Absorción:Medido mediante calorimetría láser. Los recubrimientos IBS de alta gama requieren una pérdida de absorción a granel < 5 ppm (0.0005%), pérdida de absorción superficial < 1 ppm.
Dispersión:Medido mediante dispersometría integrada. La dispersión integrada total (TIS) debe ser < 50 ppm.
3. Precisión del rendimiento espectral:
Recubrimiento de alta reflexión (HR):Reflectancia R > 99.95% a la longitud de onda central, el nivel superior requiere R > 99.99%. El ancho de banda Δλ debe cumplir con los valores de diseño (por ejemplo, ±15 nm para el láser Nd:YAG de 1064 nm).
Recubrimiento antirreflectante (AR):Reflectancia residual R < 0.1% (superficie única), el nivel superior requiere R < 0.05% ("recubrimiento súper antirreflectante"). Para los recubrimientos AR de banda ancha utilizados en aplicaciones de láser ultrarrápido, se requiere R < 0.5% en un ancho de banda de cientos de nanómetros.
Recubrimiento por evaporación por haz de electrones
III. Procesos de recubrimiento y comparación de parámetros centrales
Comparación de parámetros del proceso de recubrimiento:
|
Parámetro |
Evaporación por haz de electrones (E-beam) |
Deposición asistida por iones (IAD) |
Pulverización con haz de iones (IBS) |
|
Velocidad de deposición |
Rápido (0.5 - 5 nm/s) |
Medio (0.2 - 2 nm/s) |
Lento (0.01 - 0.1 nm/s) |
|
Temperatura del sustrato |
Alta (200 - 350 °C) |
Media (100 - 300 °C) |
Baja (< 100 °C) |
|
Densidad del recubrimiento |
Relativamente baja (porosa, ~80-95% de densidad a granel) |
Alta (>95% de densidad a granel) |
Muy alta (cerca del 100% de densidad a granel) |
|
Rugosidad superficial |
Más alta (~1-2 nm RMS) |
Baja (~0.5-1 nm RMS) |
Muy baja (< 0.3 nm RMS) |
|
Control de tensión |
Típicamente tensión de tracción |
Ajustable (tensión de compresión o tracción) |
Típicamente tensión de compresión controlable |
|
LIDT típico |
Bajo a Medio |
Medio a Alto |
Muy alto |
Selección de procesos basada en datos:
Elija IBS:Cuando los requisitos del sistema exigen LIDT > 25 J/cm² y absorción < 10 ppm, IBS es la única opción.
Elija IAD:Cuando el presupuesto es limitado pero se requiere LIDT en el rango de 15-20 J/cm², IAD es la solución más rentable.
Elija E-beam:Se utiliza principalmente para láseres de energía con bajos requisitos de umbral de daño o prototipado preliminar.
IV. Verificación cuantitativa del cumplimiento del recubrimiento
1. Pruebas LIDT (ISO 21254):
Método:Utiliza un método de 1 contra 1, irradiando múltiples sitios dentro del punto del haz de prueba, cada sitio solo una vez.
Análisis de datos:La curva de probabilidad de daño se ajusta mediante regresión lineal; el valor de densidad de energía correspondiente a una probabilidad de daño del 0% se define como el LIDT.
Tamaño del punto del haz:Típicamente 200-1000 μm, debe medirse con precisión para calcular la densidad de energía.
2. Medición de la absorción:
Calorimetría láser:Mide directamente el aumento de temperatura de una muestra que absorbe la energía del láser. La sensibilidad puede alcanzar 0.1 ppm.
Técnica de lente térmica superficial:Sensibilidad extremadamente alta, puede distinguir entre la absorción a granel y la superficial.
Espectrofotómetro
3. Rendimiento espectral:
Espectrofotómetro:Precisión de hasta ±0.05%, utilizado para medir la reflectancia/transmitancia (R/T).
Interferómetro de luz blanca:Se utiliza para medir el espesor del recubrimiento y la morfología de la superficie; la precisión del control del espesor puede alcanzar < 0.1%.
Filtro láser de banda estrecha NBP1064
V. Descripción cuantitativa de los desafíos
1. Mejora del campo eléctrico debido a defectos:Los defectos nodulares son el mayor asesino de LIDT. Un defecto nodular de 100 nm de altura puede causar una mejora local del campo eléctrico del láser por un factor de 2-3 en comparación con el área normal. Dada la relación inversa al cuadrado entre el umbral de daño y la intensidad del campo eléctrico, el LIDT en este punto cae a 1/4 a 1/9 del área normal.
2. Cuantificación de los desafíos de la gestión térmica:Suponiendo que un láser de onda continua de 10 kW se refleja en un espejo, incluso con una tasa de absorción de solo 5 ppm, se absorberán 50 mW de potencia. Si esta carga de calor es desigual, crea un gradiente de temperatura (ΔT) dentro del componente óptico y la deformación térmica correspondiente (Diferencia de trayectoria óptica, OPD). La OPD se puede calcular como: OPD = (dn/dT + α(n-1)) * ΔT * t, donde dn/dT es el coeficiente termo-óptico, α es el coeficiente de expansión térmica y t es el espesor. Esta deformación degrada severamente la calidad del haz (aumenta el factor M²).
3. Efectos no lineales de los láseres ultrarrápidos:El umbral de daño del láser de femtosegundos es proporcional a la raíz cuadrada del ancho del pulso (~√τ). Teóricamente, un recubrimiento con un LIDT de 40 J/cm² bajo un pulso de 10 ns tendría un LIDT de aproximadamente 0.4 J/cm² bajo un pulso de 100 fs (aunque el mecanismo real es más complejo, e involucra la absorción multifotónica).
4. Control de la uniformidad para componentes de gran apertura:Para sustratos con diámetros > 500 mm, garantizar la uniformidad del espesor del recubrimiento dentro de ±0.1% presenta desafíos extremos para la disposición de las fuentes de pulverización y la uniformidad de los campos de presión y temperatura dentro de la cámara de vacío.
El recubrimiento láser de alta potencia ha evolucionado de un arte a una ciencia de datos precisa. Cada aumento porcentual en la reflectancia, cada reducción de ppm en la pérdida por absorción y cada avance de J/cm² en LIDT se basa en una comprensión profunda de sus mecanismos físicos, el control a nanoescala de los parámetros del proceso y la caracterización cuantitativa de los indicadores de rendimiento. En el futuro, a medida que la potencia y la energía del láser se muevan hacia el nivel de exawatt (EW), las demandas de la tecnología de recubrimiento se acercarán a los límites absolutos de la física de los materiales, lo que requerirá innovación interdisciplinaria para definir los estándares para la próxima generación de parámetros técnicos.
Conclusión
ZMSH, con una década de experiencia dedicada en el sector de los materiales ópticos, aprovecha un sistema integrado de comercio industrial maduro como su principal fortaleza. La empresa se especializa en la personalización y el procesamiento de precisión de materiales semiconductores de alta gama, incluyendo zafiro de alta pureza, carburo de silicio (SiC) y sílice fundida.
Poseemos una profunda comprensión de las exigencias extremas que los sistemas láser de alta potencia imponen a los componentes ópticos, particularmente en términos de umbral de daño inducido por láser (LIDT), estabilidad térmica y rendimiento espectral. Esta experiencia nos permite integrar profundamente las propiedades de los materiales con tecnologías de recubrimiento avanzadas, como la pulverización con haz de iones (IBS), ofreciendo soluciones integrales de cadena completa para nuestros clientes, desde la selección del sustrato y el diseño del sistema de recubrimiento hasta la fabricación de precisión.
Nuestro compromiso garantiza que cada componente mantenga un rendimiento fiable bajo cargas ópticas, térmicas y mecánicas extremas, lo que en última instancia permite a los sistemas láser superar los límites de potencia y estabilidad.
Oblea de zafiro ZMSH
Análisis del recubrimiento óptico para lentes de sistemas láser de alta potencia
En los sistemas láser de alta potencia (como los dispositivos de fusión nuclear por láser, las máquinas de procesamiento láser industrial y los láseres ultra rápidos ultra intensos científicos), las lentes ópticas no solo sirven como guías para la trayectoria de la luz, sino también como nodos críticos para la transmisión de energía. Las superficies de las lentes sin recubrimiento pueden reflejar una parte significativa de la energía y absorber la energía del láser, lo que provoca calentamiento, lo que causa efectos de lente térmica e incluso daños permanentes. Por lo tanto, los recubrimientos ópticos de alto rendimiento son la garantía fundamental para el funcionamiento estable, eficiente y seguro de los sistemas láser de alta potencia.
I. Sustratos de lentes ópticas: Selección cuantitativa de parámetros clave de rendimiento
El rendimiento del recubrimiento es inseparable de las propiedades del sustrato. El sustrato no solo determina el punto de partida para el recubrimiento, sino que sus propiedades termodinámicas, ópticas y mecánicas también son la base para determinar si todo el componente puede soportar cargas de alta potencia. La selección de un sustrato requiere una consideración cuantitativa de los siguientes parámetros centrales:
Propiedades ópticas:El índice de refracción y el coeficiente de absorción son los puntos de partida para diseñar la pila de recubrimiento y evaluar la carga térmica. Cualquier absorción menor (por ejemplo, 10⁻³ cm⁻¹) puede producir efectos térmicos significativos a alta potencia.
Propiedades termodinámicas:La conductividad térmica determina la velocidad de disipación del calor, y el coeficiente de expansión térmica (CTE) afecta la magnitud de la tensión térmica. La falta de coincidencia entre el CTE del sustrato y la capa de recubrimiento es una causa principal de fallo.
Propiedades mecánicas:La dureza y el módulo elástico afectan la dificultad de procesamiento y la durabilidad ambiental.
Vidrio de cuarzo
Los materiales de sustrato láser de alta potencia comunes incluyen:
Obleas de cuarzo fundido ZMSH
Vidrio de borosilicato (por ejemplo, BK7):Menor costo, a menudo utilizado en escenarios de potencia media a baja, pero menor conductividad térmica y mayor CTE.
Obleas de vidrio de borosilicato alto ZMSH
Materiales cristalinos:Como silicio (Si), germanio (Ge) (para IR medio a lejano), zafiro (dureza extremadamente alta para entornos extremos), CaF₂/MgF₂ (para UV profundo). Estos suelen ser caros y difíciles de procesar.
Comparación de parámetros clave para sustratos láser de alta potencia convencionales (@1064nm):
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Material |
Índice de refracción @1064nm |
CTE (×10⁻⁷/K) |
Conductividad térmica (W/m·K) |
Coeficiente de absorción (cm⁻¹) |
Aplicación típica y notas |
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Sílice fundida |
~1.45 |
5.5 |
1.38 |
< 5 × 10⁻⁴ |
Estándar de oro. Para la mayoría de las aplicaciones de alta potencia de UV a NIR, excelente estabilidad térmica. |
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BK7 |
~1.51 |
71 |
1.1 |
~1 × 10⁻³ |
Para potencia media-baja. Mal rendimiento térmico, lente térmica significativa. |
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Sílice sintética |
~1.45 |
5.5 |
1.38 |
< 2 × 10⁻⁴ |
Pureza ultra alta, impurezas metálicas muy bajas (<1 ppm), LIDT 20-30% más alto que la sílice fundida normal. |
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Silicio (Si) |
~3.55 |
26 |
149 |
N/A |
Principalmente para la banda IR media de 3-5 μm. La alta conductividad térmica es la principal ventaja. |
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Zafiro (Al₂O₃) |
~1.76 |
58 |
27.5 |
Muy bajo |
Dureza extremadamente alta y buena conductividad térmica, para entornos hostiles, UV, luz visible. |
Interpretación de datos:
Cálculo de la lente térmica:Para un láser de onda continua de 100 W, la distorsión térmica generada en un sustrato BK7 con un coeficiente de absorción de 1×10⁻³ cm⁻¹ puede ser varias veces mayor que en un sustrato de sílice fundida con un coeficiente de absorción de 5×10⁻⁴ cm⁻¹.
Análisis de tensión térmica:La diferencia en el CTE afecta directamente la tensión térmica en la interfaz sustrato-recubrimiento. La falta de coincidencia del CTE es la causa principal de agrietamiento o deslaminación del recubrimiento bajo ciclos térmicos de alta potencia.
Umbral de daño por láser
II. Indicadores cuantitativos para los requisitos de recubrimiento
1. Umbral de daño inducido por láser (LIDT):
Estándar de medición:Sigue el estándar ISO 21254.
Niveles de rendimiento:
Recubrimiento por evaporación por haz de electrones convencional: ~5-15 J/cm² (pulso de nanosegundos, 1064 nm)
Recubrimiento por deposición asistida por iones (IAD): ~15-25 J/cm²
Recubrimiento por pulverización con haz de iones (IBS): > 30 J/cm², los procesos de primer nivel pueden superar los 50 J/cm².
2. Pérdidas por absorción y dispersión:
Absorción:Medido mediante calorimetría láser. Los recubrimientos IBS de alta gama requieren una pérdida de absorción a granel < 5 ppm (0.0005%), pérdida de absorción superficial < 1 ppm.
Dispersión:Medido mediante dispersometría integrada. La dispersión integrada total (TIS) debe ser < 50 ppm.
3. Precisión del rendimiento espectral:
Recubrimiento de alta reflexión (HR):Reflectancia R > 99.95% a la longitud de onda central, el nivel superior requiere R > 99.99%. El ancho de banda Δλ debe cumplir con los valores de diseño (por ejemplo, ±15 nm para el láser Nd:YAG de 1064 nm).
Recubrimiento antirreflectante (AR):Reflectancia residual R < 0.1% (superficie única), el nivel superior requiere R < 0.05% ("recubrimiento súper antirreflectante"). Para los recubrimientos AR de banda ancha utilizados en aplicaciones de láser ultrarrápido, se requiere R < 0.5% en un ancho de banda de cientos de nanómetros.
Recubrimiento por evaporación por haz de electrones
III. Procesos de recubrimiento y comparación de parámetros centrales
Comparación de parámetros del proceso de recubrimiento:
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Parámetro |
Evaporación por haz de electrones (E-beam) |
Deposición asistida por iones (IAD) |
Pulverización con haz de iones (IBS) |
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Velocidad de deposición |
Rápido (0.5 - 5 nm/s) |
Medio (0.2 - 2 nm/s) |
Lento (0.01 - 0.1 nm/s) |
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Temperatura del sustrato |
Alta (200 - 350 °C) |
Media (100 - 300 °C) |
Baja (< 100 °C) |
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Densidad del recubrimiento |
Relativamente baja (porosa, ~80-95% de densidad a granel) |
Alta (>95% de densidad a granel) |
Muy alta (cerca del 100% de densidad a granel) |
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Rugosidad superficial |
Más alta (~1-2 nm RMS) |
Baja (~0.5-1 nm RMS) |
Muy baja (< 0.3 nm RMS) |
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Control de tensión |
Típicamente tensión de tracción |
Ajustable (tensión de compresión o tracción) |
Típicamente tensión de compresión controlable |
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LIDT típico |
Bajo a Medio |
Medio a Alto |
Muy alto |
Selección de procesos basada en datos:
Elija IBS:Cuando los requisitos del sistema exigen LIDT > 25 J/cm² y absorción < 10 ppm, IBS es la única opción.
Elija IAD:Cuando el presupuesto es limitado pero se requiere LIDT en el rango de 15-20 J/cm², IAD es la solución más rentable.
Elija E-beam:Se utiliza principalmente para láseres de energía con bajos requisitos de umbral de daño o prototipado preliminar.
IV. Verificación cuantitativa del cumplimiento del recubrimiento
1. Pruebas LIDT (ISO 21254):
Método:Utiliza un método de 1 contra 1, irradiando múltiples sitios dentro del punto del haz de prueba, cada sitio solo una vez.
Análisis de datos:La curva de probabilidad de daño se ajusta mediante regresión lineal; el valor de densidad de energía correspondiente a una probabilidad de daño del 0% se define como el LIDT.
Tamaño del punto del haz:Típicamente 200-1000 μm, debe medirse con precisión para calcular la densidad de energía.
2. Medición de la absorción:
Calorimetría láser:Mide directamente el aumento de temperatura de una muestra que absorbe la energía del láser. La sensibilidad puede alcanzar 0.1 ppm.
Técnica de lente térmica superficial:Sensibilidad extremadamente alta, puede distinguir entre la absorción a granel y la superficial.
Espectrofotómetro
3. Rendimiento espectral:
Espectrofotómetro:Precisión de hasta ±0.05%, utilizado para medir la reflectancia/transmitancia (R/T).
Interferómetro de luz blanca:Se utiliza para medir el espesor del recubrimiento y la morfología de la superficie; la precisión del control del espesor puede alcanzar < 0.1%.
Filtro láser de banda estrecha NBP1064
V. Descripción cuantitativa de los desafíos
1. Mejora del campo eléctrico debido a defectos:Los defectos nodulares son el mayor asesino de LIDT. Un defecto nodular de 100 nm de altura puede causar una mejora local del campo eléctrico del láser por un factor de 2-3 en comparación con el área normal. Dada la relación inversa al cuadrado entre el umbral de daño y la intensidad del campo eléctrico, el LIDT en este punto cae a 1/4 a 1/9 del área normal.
2. Cuantificación de los desafíos de la gestión térmica:Suponiendo que un láser de onda continua de 10 kW se refleja en un espejo, incluso con una tasa de absorción de solo 5 ppm, se absorberán 50 mW de potencia. Si esta carga de calor es desigual, crea un gradiente de temperatura (ΔT) dentro del componente óptico y la deformación térmica correspondiente (Diferencia de trayectoria óptica, OPD). La OPD se puede calcular como: OPD = (dn/dT + α(n-1)) * ΔT * t, donde dn/dT es el coeficiente termo-óptico, α es el coeficiente de expansión térmica y t es el espesor. Esta deformación degrada severamente la calidad del haz (aumenta el factor M²).
3. Efectos no lineales de los láseres ultrarrápidos:El umbral de daño del láser de femtosegundos es proporcional a la raíz cuadrada del ancho del pulso (~√τ). Teóricamente, un recubrimiento con un LIDT de 40 J/cm² bajo un pulso de 10 ns tendría un LIDT de aproximadamente 0.4 J/cm² bajo un pulso de 100 fs (aunque el mecanismo real es más complejo, e involucra la absorción multifotónica).
4. Control de la uniformidad para componentes de gran apertura:Para sustratos con diámetros > 500 mm, garantizar la uniformidad del espesor del recubrimiento dentro de ±0.1% presenta desafíos extremos para la disposición de las fuentes de pulverización y la uniformidad de los campos de presión y temperatura dentro de la cámara de vacío.
El recubrimiento láser de alta potencia ha evolucionado de un arte a una ciencia de datos precisa. Cada aumento porcentual en la reflectancia, cada reducción de ppm en la pérdida por absorción y cada avance de J/cm² en LIDT se basa en una comprensión profunda de sus mecanismos físicos, el control a nanoescala de los parámetros del proceso y la caracterización cuantitativa de los indicadores de rendimiento. En el futuro, a medida que la potencia y la energía del láser se muevan hacia el nivel de exawatt (EW), las demandas de la tecnología de recubrimiento se acercarán a los límites absolutos de la física de los materiales, lo que requerirá innovación interdisciplinaria para definir los estándares para la próxima generación de parámetros técnicos.
Conclusión
ZMSH, con una década de experiencia dedicada en el sector de los materiales ópticos, aprovecha un sistema integrado de comercio industrial maduro como su principal fortaleza. La empresa se especializa en la personalización y el procesamiento de precisión de materiales semiconductores de alta gama, incluyendo zafiro de alta pureza, carburo de silicio (SiC) y sílice fundida.
Poseemos una profunda comprensión de las exigencias extremas que los sistemas láser de alta potencia imponen a los componentes ópticos, particularmente en términos de umbral de daño inducido por láser (LIDT), estabilidad térmica y rendimiento espectral. Esta experiencia nos permite integrar profundamente las propiedades de los materiales con tecnologías de recubrimiento avanzadas, como la pulverización con haz de iones (IBS), ofreciendo soluciones integrales de cadena completa para nuestros clientes, desde la selección del sustrato y el diseño del sistema de recubrimiento hasta la fabricación de precisión.
Nuestro compromiso garantiza que cada componente mantenga un rendimiento fiable bajo cargas ópticas, térmicas y mecánicas extremas, lo que en última instancia permite a los sistemas láser superar los límites de potencia y estabilidad.
Oblea de zafiro ZMSH