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Grueso simulado de la oblea Dia150mm 4H-N 500m m del substrato del grado 6Inch sic
  • Grueso simulado de la oblea Dia150mm 4H-N 500m m del substrato del grado 6Inch sic
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Grueso simulado de la oblea Dia150mm 4H-N 500m m del substrato del grado 6Inch sic

Lugar de origen China
Nombre de la marca zmsh
Número de modelo 6inch-001
Detalles del producto
usos:
dispositivo, llevado, 5G, detector, electrónica de poder
industria:
oblea del semicondctor
material:
semiconductor sic
color:
verde o blanco o azul
dureza:
9,0
tipo:
4H, 6H, dopado, ninguno-dopado,
Alta luz: 

sic oblea

,

sic substrato

Descripción de producto

6inch sic substratos, 6inch sic obleas, lingotes sic cristalinos,

bloque sic cristalino, sic substratos del semiconductor, oblea del carburo de silicio

 

6 pulgada de diámetro, especificación del substrato del carburo de silicio (sic)  
Grado Grado cero de MPD Grado de la producción Grado de la investigación Grado simulado
Diámetro 150,0 mm±0.2mm
ThicknessΔ 350 μm±25μm o 500±25un
Orientación de la oblea De eje: 4.0° hacia< 1120=""> ±0.5° para el eje de 4 H-N On: <0001> ±0.5° para 6H-SI/4H-SI
Plano primario {10-10} ±5.0°
Longitud plana primaria 47,5 mm±2.5 milímetro
Exclusión del borde 3 milímetros
TTV/Bow /Warp ≤15μm/≤40μm/≤60μm
Densidad de Micropipe cm2s ≤1 cm2s ≤5 cm2s ≤15 cm2s ≤100
Resistencia 4H-N 0.015~0.028 Ω·cm
4/6H-SI ≥1E5 Ω·cm
Aspereza Ra≤1 polaco nanómetro
CMP Ra≤0.5 nanómetro
Grietas por la luz de intensidad alta Ninguno 1 permitida, ≤2 milímetro ≤ acumulativo 10m m, solo length≤2mm de la longitud
Placas del hex. por la luz de intensidad alta Área acumulativa el ≤1% Área acumulativa el ≤2% Área acumulativa el ≤5%
Áreas de Polytype por la luz de intensidad alta Ninguno El area≤2% acumulativo El area≤5% acumulativo
Rasguños por la luz de intensidad alta 3 rasguños a la longitud acumulativa del diámetro 1×wafer 5 rasguños a la longitud acumulativa del diámetro 1×wafer 5 rasguños a la longitud acumulativa del diámetro 1×wafer
Microprocesador del borde Ninguno 3 permitida, ≤0.5 milímetro cada uno 5 permitida, ≤1 milímetro cada uno
Contaminación por la luz de intensidad alta Ninguno
Grueso simulado de la oblea Dia150mm 4H-N 500m m del substrato del grado 6Inch sic 0
Porque el cristal del tamaño 6inch crece dificultades técnicas de los &process (traslapados y que pulen), apenas podemos proporcionar el grado simulado 6inch como productos comunes en 30days y las producciones califican pero necesitando ser reservado para 90days.
 
 
Sobre nuestra compañía
SHANGAI CO. COMERCIAL FAMOSO, LTD. localiza en la ciudad de Shangai, que es la mejor ciudad de China, y nuestra fábrica se funda en la ciudad de Wuxi en 2014.
Nos especializamos en el proceso de una variedad de materiales en las obleas, los substratos y parts.components de cristal óptico custiomized ampliamente utilizados en electrónica, la óptica, la optoelectrónica y muchos otros campos. También hemos estado trabajando de cerca con muchos nacionales y las universidades, las instituciones de investigación y las compañías de ultramar, proporcionan productos modificados para requisitos particulares y los servicios para sus proyectos del R&D.
Es nuestra visión a mantener una buena relación de la cooperación con nuestros todos los clientes al lado de nuestros buenos reputatiaons.
Grueso simulado de la oblea Dia150mm 4H-N 500m m del substrato del grado 6Inch sic 1Grueso simulado de la oblea Dia150mm 4H-N 500m m del substrato del grado 6Inch sic 2Grueso simulado de la oblea Dia150mm 4H-N 500m m del substrato del grado 6Inch sic 3
 

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